通用多基體分析系統 分析通道無限制 用于固體金屬材料成分快速分析

單次測試即可直接檢出25 種以上元素 檢測窗口至液晶屏幕整機通過美國軍規 MIL-STD-810G 防摔測試标準 大幅縮短檢測所需時間，每日可完成至少上百件樣品的測試與材質判定

Bowman XRF G系列 P系列 W系列 Bowman XRF B系列 L系列 A系列 Bowman XRF O系列 M系列 K系列

HELIUS 900手持式X熒光光譜儀選用高性能SDD探測器（石墨烯窗口） 廣泛應用于合金和土壤分析領域 placeholder

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創PPM級元素分析新紀元 經典雙光室設計，光譜範圍寬，元素分辨率有保證 穩定性升級，重新定義光學產品穩定性，易用性升級，給用戶更簡單、高效體驗

LAD-250型 金相試樣磨平機 LAD-250V砂輪磨平機 iAPlan-350全自動金相磨平機

HELIUS 300手持式X熒光光譜儀選用高性能探測器 廣泛應用于合金、土壤和貴金屬分析領域 placeholder

ZNP-UVA placeholderplaceholder

DSC差示掃描量熱法分析儀、STA同步熱重分析儀、TGA熱重分析儀 DMA動态熱機械分析儀、TMA熱機械分析儀 适用于熱膨脹、熱分解、比熱容及聚合物玻璃化轉變等多種測試

用于檢查材料或部件在循環載荷下的性能 模拟材料在實際應用中可能承受的載荷，預測耐久性和承載能力 使用各種物理驅動器原理，針對每一項具體要求找到正确的解決方案

STM7 FY-MMD-3CL placeholder

直讀數顯布氏硬度計FY-HBS-3000 觸摸屏直讀數顯布氏FY-HBS-3000MD 小負荷數顯布氏硬度計FY-HBS-62.5

Nikon LV-N 正立金相顯微鏡 BX53M 金相顯微鏡 placeholder

VK-X4000 系列 用激光共聚焦、白光幹涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，對各種目标物進行高精度的測量和分析 粗糙度自動分析應用程序

Calibus 3 可以準确、高效地對金屬材料進行原位檢驗及牌号鑒定 實現鋼鐵加工、機械制造、金屬回收中合金材料質量控制及監督 placeholder

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SMP350電導率測試儀 SIGMASCOPE SMP350在線電導儀 placeholder

K+D 磁粉探傷機（德國制）700-ACY，K+D 磁粉探傷檢測儀器（德國制）全套組合 K+D 手提式磁粉探傷機 Hand yoke AC 230B（德國制） K+D Protaflux 系列

PVM-1S 壓力冷鑲嵌機 PVM-1000 全自動壓力冷鑲嵌機 placeholder

GX53 FY-MMD-500 FY-MMD-300，FY-MMD-100