EXPEC 6500系列 高靈敏型電感耦合等離子體發射光譜儀 (ICP-OES)
數字自激式全固态射頻電源、新一代垂直矩管雙向觀測技術專有大面陣E-CCD檢測器、優秀的穩定性和可靠性可擴展多種應用需求、可擴展樣品智能前處理設備
倒立式金相顯微鏡
Nikon Eclipse MA200 倒立式金相顯微鏡GX51 金相倒置顯微鏡、工業顯微鏡，GX71 金相倒置顯微鏡Nikon Eclipse MA100 倒立式金相顯微鏡
磁粉探傷設備（MT）
K+D 磁粉探傷機（德國制）700-ACY，K+D 磁粉探傷檢測儀器（德國制）全套組合K+D 手提式磁粉探傷機 Hand yoke AC 230B（德國制）K+D Protaflux 系列
全自動重金屬分析系統
采用了自動超級微波/石墨消解技術與先進的ICP-MS/ICP-OES分析方法相結合實現了“一鍵式”完成樣品消解到樣品分析全過程，把分析人員從大量的重複性工作中解放出來，并将人為誤差降低。
顯微維氏硬度計
大屏數顯顯微硬度計FY-HV-1000S，自動顯微維氏硬度測量硬度計 FY-HVS-1000MSZ-XY自動轉塔顯微維氏硬度計HV-1000Z，全自動顯微維氏硬度硬度計FY-HVS-1000MSZ-XYZ觸摸屏自動轉塔數顯顯微硬度計FY-HV-1000C
