貴金屬分析儀

VENTA-貴金屬XRF光譜儀 DELTA-貴金屬XRF光譜儀

VANTA 手持式 X 射線熒光分析儀

單次測試即可直接檢出25 種以上元素 檢測窗口至液晶屏幕整機通過美國軍規 MIL-STD-810G 防摔測試标準 大幅縮短檢測所需時間,每日可完成至少上百件樣品的測試與材質判定

近紅外光譜儀

OMNIS 奧秘一代近紅外光譜儀 2060 近紅外光譜分析儀

XRF 塗鍍層厚度測量儀

Bowman XRF G系列 P系列 W系列 Bowman XRF B系列 L系列 A系列 Bowman XRF O系列 M系列 K系列

超聲波硬度機

JFE 超聲波硬度計 SH-21、SH-22 TIME 超聲波硬度計

EXPEC 6500系列 高靈敏型電感耦合等離子體發射光譜儀 (ICP-OES)

數字自激式全固态射頻電源、新一代垂直矩管雙向觀測技術 專有大面陣E-CCD檢測器、優秀的穩定性和可靠性 可擴展多種應用需求、可擴展樣品智能前處理設備

x射線衍射儀

ARL X'TRA Companionx 台式x射線衍射儀 準确性,精度,安全性和易用性

高階金相顯微鏡(适用于 IC/LCD 檢測)

Nikon ECLIPSE L200N / 200ND 8 英寸晶圓高解析金相顯微鏡 Nikon L300N / L300ND 顯微鏡 12 英寸晶圓及 LCD 檢查顯微鏡

着色滲透探傷劑(PT)

DIFFU THERM 德國 着色滲透探傷劑

金相預磨機

LPA-2 金相預磨機 LPA-1A型 金相預磨機

金屬鍍層分析儀

VANTA-鍍層材料分析儀 M系列、C系列、L系列、E系列

MATSUZAWA微小維氏硬度試驗機

彩色液晶觸控面闆,可直接顯示硬度值、載荷值、D1/D2 值、換算值等參數 多功能測量模式:HV、HK、HB、平均值、Kc、圓柱修正 直接砝碼加載,精度更高

移動式和固定式直讀光譜儀

專為無縫質量控制設計的OES儀器,可顯著減少生產停機時間 配有功能強大的軟件包支持廣泛工業應用與結果共享 低檢出限高精度分析,測定鋼中碳及各種金屬的痕量與雜質元素

納米壓痕儀

ST30微米劃痕儀、ST200劃痕儀 HM2000S、HM2000微納米壓痕儀 HM500 LIGHT、HM500壓痕儀

便攜式硬度計

德國NewSonic便攜式硬度計 替代 GE MIC10/MIC20 機型 可提供 MIC10 替代探頭

微小維克氏硬度機

INNOVATEST FALCON 600G2 ,INNOVATEST FALCON 500G2 INNOVATEST FALCON 450G2,INNOVATEST FALCON 400G2 INNOVATEST FALCON 300G2,JCHIA 微小維氏硬度試驗機

金相鑲嵌機

RJD 氣壓式金相鑲嵌機 JCHIA 油壓式電動鑲嵌機 冷鑲嵌真空成型機,UV 光快速鑲嵌機

膜厚計/測厚儀

DeFelsko 塗層膜厚計 / UTG 超聲波測厚儀 DENSOKU 日本電測 熒光 X 射線膜厚計 EX-851,EX-731 DENSOKU 日本電測 渦電流式膜厚計 DMC-211,DENSOKU 日本電測 電解式膜厚計 GCT-311